產品(pǐn)綜(zōng)述

6362D光譜分析(xī)儀(簡稱:光譜儀)是一款高分辨、大動態高速高性能光譜分析(xī)儀,適用於600nm~1700nm光譜(pǔ)範圍的DWDM、光放大(dà)器等光係統測試(shì);LED、FP-LD、DFB-LD、光收發器等光有源器件測試;光纖、光纖(xiān)光柵等光無源器件測試。


功(gōng)能特(tè)點

  • 主要特點

    ● 20pm最小光譜分辨率

    ● 600nm~1700nm光譜(pǔ)掃描範圍

    ● 73dB大動態範圍

    ● -90dBm最高靈敏度

    ● 支持空間光輸入

    ● 內置光源輸出配置(zhì)可選

    ● 強大的多應用光譜數據分析功能(néng)

    ● 12.1英寸觸控顯示、全中文操作



  • 20pm最小分辨率

    6362D光譜分析儀(光譜儀)支持不同光譜分辨率的(de)設置(zhì),多種光譜分辨率設置靈活(huó)切換,最小光譜分辨率優於20pm。


  • 峰值檢索

    6362D光譜分析儀(光譜儀(yí))采用擁有自主知識產權的光譜自適應峰值檢索算法(fǎ),峰值檢索準確度(dù)高,自適應性和魯棒性(xìng)強,且運算速度快。

  • 單縱模激光光譜(pǔ)分析

    6362D光譜分析儀(光譜儀)具(jù)備多場景光譜分析功能,針對DFB-LD等單縱模激光光源,儀(yí)器提供閾值分(fèn)析和邊模(mó)抑製比分析兩種分析方法,有效準確的評估單縱模待測光源的中心波長、光譜帶寬和邊模抑(yì)製比。


  • 多縱模激光光譜分析


    針對FP-LD等多縱模激光(guāng)光源,6362D光譜(pǔ)分析儀(光譜儀)提供ndB損耗分析、包絡分析和均方根分析三(sān)種分析方法,多(duō)維(wéi)度(dù)全麵評估(gū)多縱(zòng)模待測光(guāng)源的中心(xīn)波(bō)長和光(guāng)譜(pǔ)帶(dài)寬。

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                                                    ndB損耗法測試中心波長和光譜帶寬

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                                                    包絡分析法測試中心波長和光譜帶寬

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                                                    均方根(gēn)分析法測試中心波長(zhǎng)和光譜帶寬






  • 多種光電子器件應用分析功(gōng)能

    6362D光譜分析儀(yí)(光譜儀)可以對LED、FP-LD、DFB-LD、LD模塊等各類(lèi)型激光器進行一鍵測試與分析,實現(xiàn)所有測(cè)試項目批處理。

    除半導體激光光源光譜測量應用外,儀器還集成了光纖偏振模色散測量應用、波分複用應用、光纖放大器(qì)應用、波分複用濾波器(qì)應用、波(bō)分複用光纖放大器應用(yòng)等光譜應用(yòng)功能,下圖是典型的波分複用應用分析。


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型(xíng)號

調製(zhì)頻率範圍

工作波長

光功率測試範圍

動態範圍

對比

產品配(pèi)置

  • 第一步:

    主機型(xíng)號

    * 請先配置主機型號

  • 第二步:

    硬件選件

    * 請先配置(zhì)硬件選(xuǎn)件(jiàn)

  • 第三步:

    軟件選件

    * 請先配置軟件選件(jiàn)

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