光譜測(cè)試
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光譜掃描範圍: 600nm~1700nm
最小光譜分辨率: 20pm
6362D光譜分析(xī)儀(簡稱:光譜儀)是一款高分辨、大動態高速高性能光譜分析(xī)儀,適用於600nm~1700nm光譜(pǔ)範圍的DWDM、光放大(dà)器等光係統測試(shì);LED、FP-LD、DFB-LD、光收發器等光有源器件測試;光纖、光纖(xiān)光柵等光無源器件測試。
● 20pm最小光譜分辨率
● 600nm~1700nm光譜(pǔ)掃描範圍
● 73dB大動態範圍
● -90dBm最高靈敏度
● 支持空間光輸入
● 內置光源輸出配置(zhì)可選
● 強大的多應用光譜數據分析功能(néng)
● 12.1英寸觸控顯示、全中文操作
6362D光譜分析儀(光譜儀)支持不同光譜分辨率的(de)設置(zhì),多種光譜分辨率設置靈活(huó)切換,最小光譜分辨率優於20pm。
6362D光譜分析儀(光譜儀(yí))采用擁有自主知識產權的光譜自適應峰值檢索算法(fǎ),峰值檢索準確度(dù)高,自適應性和魯棒性(xìng)強,且運算速度快。
6362D光譜分析儀(光譜儀)具(jù)備多場景光譜分析功能,針對DFB-LD等單縱模激光光源,儀(yí)器提供閾值分(fèn)析和邊模(mó)抑製比分析兩種分析方法,有效準確的評估單縱模待測光源的中心波長、光譜帶寬和邊模抑(yì)製比。
針對FP-LD等多縱模激光(guāng)光源,6362D光譜(pǔ)分析儀(光譜儀)提供ndB損耗分析、包絡分析和均方根分析三(sān)種分析方法,多(duō)維(wéi)度(dù)全麵評估(gū)多縱(zòng)模待測光(guāng)源的中心(xīn)波(bō)長和光(guāng)譜(pǔ)帶(dài)寬。

ndB損耗法測試中心波長和光譜帶寬

包絡分析法測試中心波長和光譜帶寬

均方根(gēn)分析法測試中心波長(zhǎng)和光譜帶寬
6362D光譜分析儀(yí)(光譜儀)可以對LED、FP-LD、DFB-LD、LD模塊等各類(lèi)型激光器進行一鍵測試與分析,實現(xiàn)所有測(cè)試項目批處理。
除半導體激光光源光譜測量應用外,儀器還集成了光纖偏振模色散測量應用、波分複用應用、光纖放大器(qì)應用、波分複用濾波器(qì)應用、波(bō)分複用光纖放大器應用(yòng)等光譜應用(yòng)功能,下圖是典型的波分複用應用分析。
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型(xíng)號 |
調製(zhì)頻率範圍 |
工作波長 |
光功率測試範圍 |
動態範圍 |
對比 |
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6362D 光譜分析儀
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