微波組件、集成電路測試(shì)
射頻集成電路測試係統是針對(duì)射頻集成電路的性能指標(biāo)測試要求,基於PXIe總線儀器為主體構建的一種集射頻、數字、源測量等測試資源於一體且集(jí)成度高的集成電路綜合測試平台。該係統具有開放式的係統體(tǐ)係架構,可適用於集成電路(lù)設(shè)計驗證、產線測試、入廠複檢等不同應用場景,能夠滿足(zú)射頻(pín)前端類相關(guān)的功率放大器、低噪聲放大器、微波開關、濾波(bō)器、雙工器等器件的全指標多工位並行自(zì)動化測試需求。
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