增益壓縮二維掃(sǎo)描,提高測試(shì)效率(lǜ)
放大器等有源器件的增益(yì)壓縮測量應用(yòng)(S86選件)僅需一次設置,一次連接,一次校準就可以得(dé)到放大器在頻域的所有增益壓縮參(cān)數(包括壓縮點的輸入功率,壓縮點的輸出功率,壓縮點的增益等(děng))和線性參數(包括線性增益,輸入匹配(pèi),輸出匹配等)。具有:
Ø 快速準確的智能掃描;
Ø 一目了然的向導校準;
Ø 方便快(kuài)捷的(de)USB電子校準,USB功率校準(zhǔn);
Ø 二維(wéi)掃(sǎo)描(頻率點掃功率(lǜ)和功(gōng)率點掃頻率)一次完成;
Ø 多種(zhǒng)壓縮方法——從線性/最大增益壓縮、從飽和(hé)態壓縮、回退法和X/Y法。

混頻器/變頻器測試
3672係列矢量網絡(luò)分析儀四端口測量功(gōng)能選件(400、S82、S83、S84選件)具有內置雙(shuāng)源,可以完(wán)成混頻器(qì)/變頻器標量和矢量參數測試(shì)。
1)混頻器/變頻(pín)器標(biāo)量參數測量
混(hún)頻器/變頻器標量測量應用選件(S82選件)可以得到頻域的所有標量參數(包括輸入/輸出端口匹配、變頻增益、輸(shū)入/輸出端功率等)。相(xiàng)比以往測試方法其優勢在於:
Ø 一次連接設(shè)置,多參數測(cè)試一次性完成;
Ø 人(rén)性化簡易的校準界麵;
Ø 方便快捷的(de)USB電子校準件校準,USB功率探頭功率校準;
Ø 內置雙(shuāng)激(jī)勵源,無需額外信號源提供本振信號;
Ø 基於端口(kǒu)匹(pǐ)配的功率(lǜ)校準技術;
Ø 為用戶解(jiě)決高準確度的混頻器標量參數測試(shì)需(xū)求。
2)混頻器/變(biàn)頻器矢量(liàng)參數測量
矢量混頻/變頻器件測試應(yīng)用選件(S83選件)集變頻器件(jiàn)的變(biàn)頻(pín)損耗或增益、端口輸入(rù)/輸出功率(正向及(jí)反向)、駐(zhù)波、相位(wèi)及群時延等參數測量於一體的測試應用軟件。其主要特點包括:
Ø 測量(liàng)過程(chéng)需使用一個參考混頻器進(jìn)行表征;
Ø 內置雙激勵源,無需額(é)外信(xìn)號源提供本振信號;
Ø 測試參數全麵,相比於標量混頻器測試增加了相位及群時延等參(cān)數的測試功能。
濾波(bō)器測試
3672係列矢量網絡分析儀(yí)具有濾波(bō)器測試菜單,可以(yǐ)得到濾波器在頻域的所有通帶指標(包括帶寬,中心頻點頻率、Q值,左截(jié)止頻率、右(yòu)截止頻率等)和阻帶指標(包括動態範圍,隔離度等)。具有:
Ø 快速準確的分段掃描;
Ø 一目了然的校準向導;
Ø 快(kuài)捷的(de)高精度電子(zǐ)校(xiào)準技(jì)術(shù);
Ø 通帶和阻帶指標一次測量(liàng)完(wán)成。

一體化脈衝(chōng)S參數測試
3672係列矢量網絡分析儀具有脈(mò)衝調製信號輸出,可以(yǐ)完成脈衝狀態下S參數測試。具有:
Ø 內置四通道脈衝發(fā)生器和脈衝調製器,端(duān)口1、3可輸(shū)出脈衝調製信號;
Ø 完整的脈衝解決方案,可在(zài)寬帶模式和窄帶模(mó)式下進行(háng)脈衝內定點、脈衝包絡和掃頻脈衝(chōng)測量(liàng);
Ø 可與外部(bù)脈衝發生器和(hé)脈衝(chōng)調製器(qì)同步,實(shí)現複雜脈衝同步測試。

自動化測試
通過GPIB總線接口、網口提供靈活多樣的控(kòng)製方式,隻需完成設備的(de)互聯,發送命令即可。為您提供一體(tǐ)化(huà)自動測試(shì)方案,包括自動校準(zhǔn)、自動測(cè)量、自動讀取、自動打印(yìn)等。具(jù)有:
Ø 簡單的(de)控製方式,一根網線、一個GPIB卡;
Ø 有效的降低成本,解放有限的人力資源;
Ø 在有效(xiào)的時間內完成更多的測試(shì),大大縮短開發周期;
Ø 完成人工不可能完成的任務,如精確時間控製,複雜環境下的測(cè)試等。

噪聲係數和噪聲參數測試(shì)
3672係列矢量網絡分析(xī)儀噪聲係數選件(003選件),結合(hé)矢量誤差(chà)修正和獨特的源端調(diào)配校準方法(fǎ),提供高精度的(de)噪聲係數和噪聲參(cān)數測量功能。
噪聲係數測量選(xuǎn)件(003選件)可以得到被測件的噪聲係數、噪聲參數、噪聲功率(lǜ)參數和噪聲相(xiàng)關矩陣,相比以往測試(shì)方法其優勢在於:
Ø 一次連接設置,噪聲係數、噪(zào)聲參數和S參數(shù)等多種參數測試一(yī)次性完成;
Ø 較小噪聲係數的(de)精確測量;
Ø 測量範圍大(0dB~55dB);
Ø 可用於芯片在片(piàn)噪(zào)聲係數的精(jīng)確測量;
Ø 可用於夾具(jù)、測試係統等場景下噪聲係數的精確測量。
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