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羞羞影院科（kē）技推（tuī）出500GHz多功能芯片測試解決方案
2026-01-14
太赫茲技術正加速從實驗（yàn）室走向商（shāng）業應用，使得行業對太赫茲芯（xīn）片測試的要求發生了根本性轉變（biàn）：測試目標已不再局限於功能層麵的“能用（yòng）”，而是全麵追求複雜真實場景中性能穩定（dìng）、測試高效且成本可控的“好用”。
羞羞影院科技研製出3601型S參數測試模塊、36102型探針、20501型（xíng）校準片等係列產品，結合商業探針台，國（guó）內首次推出最高頻率至500GHz的高穩定、多功能太（tài）赫茲芯片（piàn）測試解決方案。
圖（tú）1 330GHz-500GHz頻段芯片（piàn）測試儀 高頻 采用分頻段的方式，可將芯片測試頻率擴展至500GHz，能夠（gòu）實現太赫茲芯片幅度（dù）、相位、群時（shí）延等參數精準測試。330GHz-500GHz頻段在片雙端口校準後，Thru校驗（yàn）結果如圖2所示。 圖2 在片校準後Thru校驗結果 高穩定 該方（fāng）案（àn）在500GHz頻段具有（yǒu）良好的幅度（dù）穩定性和相位穩定性，能夠適於晶圓級太赫茲芯片的研發驗證與量產測試（shì）。圖3為（wéi）330GHz-500GHz頻段校準後（hòu），幅度和相位穩定性測試結果。 （a）幅度穩定性 （b）相位穩（wěn）定性 圖（tú）3 穩定性測（cè）試結果 多功能 結合自主開（kāi）發的多功能測（cè）試（shì）軟件算法，一（yī）次紮針（zhēn）可實現散射參數、功率參數的一體化測試，可大幅度（dù）提升晶圓級太赫茲芯片的測（cè）試效率和（hé）測試精度。圖4為某放大（dà）器芯片散射參（cān）數（小信號增益（yì）、回（huí）波損（sǔn）耗，隔（gé）離度）和功率（lǜ）參（cān）數（shù）（輸入功率、輸出功率）測試結果。 圖4 放（fàng）大器性能（néng）測試結果 羞羞影院科技持（chí）續關注半導體（tǐ）測試領域創新，除具備高頻測試能力之外，還具備多端（duān）口、超寬（kuān）帶、調製解調等測試（shì）能力，已形成（chéng）微波毫米波與太赫茲晶圓級芯片測試解決方案，可（kě）助您構築穩定、高效（xiào）的測試環境（jìng），解決您（nín）的在（zài）片測試難（nán）題！
