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產品綜述
6433P光波（bō）元件分析儀是麵（miàn）向高速電光器件、光電器（qì）件及光光器件調製（zhì）特性測試的儀器，頻率範圍覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測試、電光（guāng）測試、光（guāng）電測試及光光（guāng）測試4種測試模式，具有對數/線性幅度、相位（wèi）、群時延（yán）、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式，能夠精確（què）測量光電網絡的（de）幅/相頻特性，主要應用於高速電光器件（電光強度調製器、直接（jiē）調製激光器、光（guāng）發射組（zǔ）件）、光電（diàn）器（qì）件（探（tàn）測器、光（guāng）發射組件、探測器芯片）及光光器件（光衰減器、EDFA）的（de）帶寬、幅（fú）/相頻、群時延等頻響參數的（de）測試。
功能特點
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主（zhǔ）要特點
10MHz~110GHz 寬頻帶同軸（zhóu）覆蓋；
最小頻率（lǜ）分辨率1Hz；
測試功能豐富，具備傳輸、反射等多種參數測試功（gōng）能；
一（yī）體化多（duō）功能測試界麵（miàn）；
向導式校準及一鍵式快速掃頻測試；
多窗口顯示及快速分析；
自動夾具移除，快速獲取探針數據；具有USB、LAN等接口和SCPI程控指令集（jí），可實現自動測試
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10MHz~110GHz 寬頻帶同（tóng）軸覆蓋
6433P光波元件（jiàn）分析儀調製（zhì）頻率最高可達110GHz，最小頻率分（fèn）辨率為1Hz，可實現高速寬頻帶光器（qì）件及光芯片（piàn）調製（zhì）特（tè）性（xìng）測試。
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一體化多功能（néng）測試向導界（jiè）麵
6433P光波元件分析儀具（jù）備電電、電光、光電、光（guāng）光四（sì）種測量模式，功能（néng）模式之間可任（rèn）意切換，可滿足光器件的S參數、阻抗、時域等參數測量需求。一體化多功能界麵方便用戶快速完成測量模式、光波參數、光路去嵌入參數、射頻去嵌入等參數的（de）設置。
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向導（dǎo）式校準及一鍵式測試
6433P光（guāng）波元件分析（xī）儀進行微波域的電電校準及光波域（yù）的光路校準（zhǔn）時，采用向導式校準，方便用戶對儀器進行快速校準，獲得被測件（jiàn）準確的測試結果。同時采用一體化集成設計方案，利（lì）用核心算法，實現電光/光電/光光器件一鍵式寬帶快（kuài）速掃頻測試。
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多窗口（kǒu）快速顯示及分析
6433P光波元件分析儀最多支持64個測量通道，32個測量窗口，每個窗（chuāng）口（kǒu）最多可同時顯（xiǎn）示16條（tiáo）測試（shì）軌跡，可實現結果的多窗（chuāng）口、多格（gé）式顯示。
高（gāo）分辨率（lǜ）多點觸控電容屏可快速實現各種輸入和選擇操作，快捷高效，便於用戶快（kuài）速分析（xī）數（shù）據，為用戶提供全新的光（guāng）波元件分析（xī）儀操作體驗。
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自動（dòng）夾具移除，快速獲（huò）取（qǔ）探針（zhēn）數據
6433P光波元件分析儀利用自動夾具移除功能可快速解決光芯片S參數測試難題。測（cè）試時，將高（gāo）頻探針等效為夾具（jù），通（tōng）過自動（dòng）夾具移除功能（néng）測量高頻探針的時域（yù）參數，利用信號流圖提取頻域參數，形成s2p文件，進而通過射頻去嵌入，實現光芯片的高精度S參數測（cè）試。
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型號 |
調製頻率（lǜ）範圍 |
工作波長 |
光功率測（cè）試範圍 |
動（dòng）態範圍（wéi） |
對比 |
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