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解決方案
相控陣天線環試測（cè）試係統
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方案概述
相控陣天線環試測試係統（tǒng）主要用於（yú）多種型號相控陣天線（xiàn）的溫度（高溫、常溫、低溫）、振動等環（huán）境試（shì）驗，根據不同（tóng）環試（shì）條件下所得產（chǎn）品參數對產品環試適應性指標進行標定，能夠實現多台（tái）產品批量測試。隨著相控陣天線產品批量生產任務的不斷（duàn）增加，需要應對產能擴充帶來的硬件升級，相控陣天線環（huán）試測試係（xì）統設計方案根（gēn）據對產品（pǐn）測試需求的可行性研究與分析，建立了（le）基於“核心測試設備+主控計算機+測試應用開發”的（de）設計思路，使（shǐ）測試係統總體架構更通用（yòng）化（huà），也使測試係統具有使用便（biàn）捷、可靠性好、安全性（xìng）高、測試精（jīng）度高及可擴展性等技術特點。
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功（gōng）能（néng）特點
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主要特點
l 相控陣天線環試測試係統能進行相控陣天線的接收、發射環境試驗
l 能兼容多（duō）種型（xíng）號的相控陣天（tiān）線環境試驗（yàn）
l 通過射頻信號處理單元、波控信號處理單元、電（diàn）源切換單元等專（zhuān）用設備實現多個被測件（jiàn）的測試（測試（shì）設備分時複用）
l 可（kě）同次進行不同型號的相控陣（zhèn）天線環境試驗
l 具（jù）備信息化管理功能
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典型應用（yòng）
相控陣（zhèn）天線環試測試係統主（zhǔ）要（yào）用於相控陣天線的接收（shōu）、發射環境試驗。
技術規範
參數名稱
技術指標
頻段
可選頻段
Ku波段、Ka波段（可擴展（zhǎn）其他頻段）
工業級計算機配置
PXI機（jī）箱
9槽
PXI控製器
i7、8G、1T固態硬盤
射頻/微波儀器
信號發生器
頻段10MHz~40GHz
信號/頻譜分析儀
頻段10MHz~40GHz
功率計
頻段10MHz~40GHz
專用設（shè）備（bèi）
射頻信號處理單元
集成各波（bō）段功放，16個通道
波控信號處理單元
16個通道（dào）
電源切換單元
16個通道
電源（yuán）供電
係（xì）統供電
220V±10%，≤2000W；380 V±10%，≤2000W
大功率程控電源
10kW，500V/60A
程控電源
8路（2路20 V/15 A、6路35 V/8.5A）
測試參數
相控陣天線發射性能
天（tiān）線（xiàn）發射相關參數
相控陣天線（xiàn）接收（shōu）性能
天線接收相關參數
可靠性指標
穩定、可靠（kào）工作時間
≥240 h
故障恢（huī）複時間
≤10 min
訂貨信息（xī）
設備名（míng）稱
數量
相控陣天線環試測試係統
1套
用戶手冊（cè）
1套
合格（gé）證
1套
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