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典型應用
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單端光器件測試
針（zhēn）對電（diàn）光調製器、直接調製激光（guāng）器等電光器件（jiàn）的S11參數（shù）和S21參數測試，利用多窗口（kǒu）顯示（shì）可快速（sù）獲取測試（shì）對象的各頻點反射和傳輸特性；針（zhēn）對光電探測器、ROSA、TIA集成組件等光（guāng）電器（qì）件（jiàn）的S22參數和S21參數測試，利用光（guāng）標功能可快速分析3dB帶寬，評估器件的頻響（xiǎng）特性；針對（duì）光纖濾波器等光光器件（jiàn）的S21參數測試，可快速（sù）實現損耗、平坦度（dù）等指標的測量。
幅頻特性測（cè）試（shì）
利用儀器提供的多（duō）種顯示模式,可實現相位、群時延等信息的顯示，可快速實現相頻特性等指標的測量。
相頻特性測試
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平（píng）衡光（guāng）器件測試
光波元件分析儀通過配置（zhì）四端口機型，實現平衡（héng）光發射或光接收器件對差分增益和共模抑製參數的測試需求，更加貼合現有和未來高速光纖通信領域中多端口參數的測量場合。
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光芯片在片測試
6433P光波元件分析儀搭配探針台及（jí）高頻（pín）探針，可實（shí）現電光/光電（diàn）芯片的頻響參數的測（cè）試。
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自動化測試
6433P光波元件分析儀提供標準的（de）SCPI程控指令集，方便用戶進行遠程控製。通過網口，隻需完成設備的（de）互聯，發送命令即可實現一體化的自動測（cè）試方（fāng）案（àn），方便用戶將（jiāng）光波元件分析儀與溫控、數字源表及被測件等共同（tóng）搭建光（guāng）芯片測（cè）試係統。
